Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri

Institutul National de Cercetare – Dezvoltare pentru Optoelectronica – INOE 2000

Achizitia publica presupune atribuirea contractului de furnizare echipament „Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri” destinat cercetarilor avansate de laborator pentru pulberi si filme subtiri.

Termen limită
Termenul de primire a ofertelor a fost de 2014-11-25. Achiziția publică a fost publicată pe 2014-10-13.

Cine?

• • Institutul National de Cercetare – Dezvoltare pentru Optoelectronica – INOE 2000

Ce?

• • Aparate de control şi de testare › Aparate de difracţie

Unde?

• • Bucureşti-Ilfov ›