Sistem dual microscopie Afm-Raman, microscop Sem cu sistem EBL, sistem complex pentru microdifractie, sistem de caracterizare Sem/Stem, spectrometru de masa, elipsometru
Lotul 1. Sistem de caracterizare Sem/Stem, microscop Sem cu sistem EBL (E-Beam Lithography);
Lotul 2. Sistem complex pentru microdifractie;
Lotul 3. Sistem dual microscopie Afm-Raman;
Lotul 4. Spectrometru de masa;
Lotul 5. Elipsometru.
Termen limită
Termenul de primire a ofertelor a fost de 2014-11-24.
Achiziția publică a fost publicată pe 2014-10-01.
Furnizori
Următorii furnizori sunt menționați în deciziile de atribuire sau în alte documente de achiziții publice:
Cine?
Ce?
Unde?
Istoricul achizițiilor
| Data |
Document |
| 2014-10-01
|
Anunţ de participare
|
| 2014-11-19
|
Informaţii suplimentare
|
| 2015-03-18
|
Anunt de atribuire
|