Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri

Institutul National de Cercetare-Dezvoltare pentru Optoelectronica – INOE 2000

Achizitia publica presupune atribuirea contractului de furnizare echipament „Sistem de caracterizare structurala prin difractie de raze X de rezolutie înalta HR-XRD, multimodular, pentru masurarea pulberilor si a filmelor subtiri” destinat cercetarilor avansate de laborator pentru pulberi si filme subtiri.

Termen limită
Termenul de primire a ofertelor a fost de 2015-02-25. Achiziția publică a fost publicată pe 2015-01-12.

Furnizori
Următorii furnizori sunt menționați în deciziile de atribuire sau în alte documente de achiziții publice:
Cine?

Ce?

Unde?

Istoricul achizițiilor
Data Document
2015-01-12 Anunţ de participare
2015-02-12 Informaţii suplimentare
2015-03-23 Anunt de atribuire