Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive
Furnizarea, instalarea si punerea in functiune cu instruirea personalului utilizator a unui Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor în filme subtiri si monocristale masive.
Termen limită
Termenul de primire a ofertelor a fost de 2017-09-21.
Achiziția publică a fost publicată pe 2017-08-10.
Furnizori
Următorii furnizori sunt menționați în deciziile de atribuire sau în alte documente de achiziții publice:
Cine?
Ce?
Unde?
Istoricul achizițiilor
| Data |
Document |
| 2017-08-10
|
Anunţ de participare
|
| 2017-08-16
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-08-31
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-09-06
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-09-08
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-10-17
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-11-22
|
Anunt de atribuire
|