Microscop electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” cu transport, instalare, punere in functiune, instruire.”
Microscopul electronic cu scanare de electroni (SEM), echipat cu tehnici analitice si accesorii” va fi utilizat pentru studiul suprafetelor materialelor.
Metoda este cunoscuta sub denumirea de Scanning Electron Microscopy (SEM) si este utilizata pentru studiul morfologiei suprafetelor si analiza compozitiei chimice a materialelor volumice, micro sau nanostructurate.
Termen limită
Termenul de primire a ofertelor a fost de 2017-11-20.
Achiziția publică a fost publicată pe 2017-10-16.
Furnizori
Următorii furnizori sunt menționați în deciziile de atribuire sau în alte documente de achiziții publice:
Cine?
Ce?
Unde?
Istoricul achizițiilor
| Data |
Document |
| 2017-10-16
|
Anunţ de participare
|
| 2017-10-31
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-11-06
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-11-13
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-11-14
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-11-17
|
Informaţii suplimentare
|
| 2017-12-19
|
Anunt de atribuire
|